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Buffer-free HEMT with Ultra-Thin AlN Back Barrier and GaN channel Suppressing Drain Lag and Quiescent Drain Current Drift |
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期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:Yachao Zhang; Kelin Wang; Xing Chen; Wenjun Liu; Hong Zhou; et al 出版日期:2026 |
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(2025-6-4)