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![]() 超小纳米粒子超分子络合对高分辨率纳米压印光刻聚合物薄膜残余应力衰减的影响
相关领域
材料科学
纳米压印光刻
聚合物
残余应力
薄脆饼
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铸造
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光电子学
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期刊:Angewandte Chemie 作者:Jiadong Chen; Shenglin Yao; Bin Wang; Qiang Yu; Binghui Xue; et al 出版日期:2024-12-23 |
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