| 标题 |
 On the selection of flatness measurement points in coordinate measuring machine inspection 论三坐标测量机检测中平面度测量点的选择
相关领域
平坦度（宇宙学）
坐标测量机
采样（信号处理）
样品（材料）
样本量测定
路径（计算）
选择（遗传算法）
计算机科学
点（几何）
算法
准确度和精密度
数学
统计
工程制图
工程类
人工智能
计算机视觉
机械工程
几何学
滤波器（信号处理）
物理
量子力学
色谱法
化学
程序设计语言
宇宙学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：International Journal of Machine Tools and Manufacture 作者：Weon-Seok Kim; Shivakumar Raman 出版日期：2000-02-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
cdercder
冰魂
科研助手6
SYLH
昏睡的蟠桃
卡卡西
椋鸟
Liou
Ankher
平常的毛豆
卡皮巴拉yuan
HEIKU
ZhouYW
HEAUBOOK
剑指东方是为谁
bc
kento
LaTeXer
yufanhui
shinysparrow
皖公网安备34019202002308
