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Rate-controlled cycle etching of GaN by cycle exposure to BCl3 and F2-added Ar plasma at a substrate temperature of 400 °C |
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期刊:Journal of Vacuum Science & Technology B 作者:Shohei Nakamura; Atsushi Tanide; Soichi Nadahara; Kenji Ishikawa; Masaru Hori 出版日期:2025-01-27 |
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(2025-6-4)