| 标题 |
 Synthetic data augmentation for surface defect detection and classification using deep learning 相关领域
计算机科学
人工智能
卷积神经网络
管道（软件）
合成数据
深度学习
机器学习
模式识别（心理学）
灵敏度（控制系统）
代表（政治）
噪音（视频）
领域（数学分析）
发电机（电路理论）
图像（数学）
功率（物理）
工程类
数学分析
物理
数学
量子力学
电子工程
政治
法学
政治学
程序设计语言
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Journal of Intelligent Manufacturing 作者：Saksham Jain; Gautam Seth; Arpit Paruthi; Umang Soni; Girish Kumar 出版日期：2020-11-18 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
Nole
cdercder
东方元语
张欢馨
呵呵
OK
昏睡的蟠桃
MozzieMiao
aajhajkahna
Kao
xing_xing
可爱的小paper
cat
v0id
认真芷容
sagitar
yjh123
丰富语蕊
Nexus
七听
皖公网安备34019202002308
