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High-current degradation mechanisms in AlGaN deep-ultraviolet LEDs: The role of point defects |
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| DOI |
10.26599/nr.2026.94908952
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期刊:Nano Reseach 作者:Dekun Luo; Wei Wu; Min Li; Q. Luo; Yaoze Li; et al 出版日期:2026-06-01 |
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(2025-6-4)