| 标题 |
 Interface Evolution of Solid Oxide Cells between the Electrode and the Interconnect Rib Induced with Applied Current 相关领域
互连
材料科学
电极
接触电阻
电流（流体）
氧化物
电流密度
接触面积
复合材料
光电子学
等温过程
微观结构
电子工程
电气工程
冶金
计算机科学
图层（电子）
工程类
化学
物理化学
物理
计算机网络
热力学
量子力学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Energy Technology 作者：Nan Huang; Su Yu; Beibei Han; Wanbing Guan; Subhash C. Singhal 出版日期：2022-02-16 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
cdercder
wwww
无极微光
修仙中
Maestro_S
Nole
aajhajkahna
OK
sagitar
Criminology34
arniu2008
Kao
小高
奔跑
渡人舟
Car66614
碧蓝明雪
东方元语
aaaa
大苦瓜
皖公网安备34019202002308
