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Electrical properties of high-κ gate dielectrics: Challenges, current issues, and possible solutions 高κ栅极电介质的电学特性:挑战、当前问题和可能的解决方案
相关领域
材料科学
CMOS芯片
栅极电介质
光电子学
电介质
高-κ电介质
栅氧化层
金属浇口
泄漏(经济)
半导体
随时间变化的栅氧化层击穿
工程物理
电气工程
电子工程
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电压
晶体管
工程类
经济
宏观经济学
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期刊:Materials Science and Engineering R Reports 作者:Michel Houssa; L. Pantisano; L.-Å. Ragnarsson; R. Degraeve; T. Schram; et al 出版日期:2006-04-01 |
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