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Study on annealing effect of bipolar transistors at different temperatures after total dose irradiation 双极晶体管总剂量辐照后不同温度退火效应的研究
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:Rigen Mo; Pengwei Li; He Lyu; Bo Mei; Yi Sun; et al 出版日期:2023-09-30 |
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