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Physical and electrical characteristics of AlGaN/GaN metal-oxide-semiconductor high-electron-mobility transistors with rare earth Er2O3 as a gate dielectric 以稀土Er2O3为栅介质的AlGaN/GaN金属氧化物半导体高电子迁移率晶体管的物理和电学特性
相关领域
高电子迁移率晶体管
材料科学
光电子学
晶体管
击穿电压
异质结
电介质
栅极电介质
阈值电压
电压
电气工程
工程类
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期刊:Thin Solid Films 作者:Ray‐Ming Lin; Fu-Chuan Chu; Atanu Das; Sheng-Yu Liao; Shu-Tsun Chou; et al 出版日期:2013-01-25 |
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