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![]() 使用激光烧蚀-电感耦合等离子体-质谱仪对结构化硅表面上的金属离子和纳米颗粒进行成像,用于半导体制造过程中的污染控制
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期刊:IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing 作者:Heung Bin Lim; Katherine M. McLachlin; Ciaran O’Connor; Daniel R. Wiederin; Hyuck Ki Hong 出版日期:2021-03-10 |
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