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![]() 拉压应变对AlGaN/GaN HEMT器件栅极漏电流和逆压电效应的影响
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Yiqun Zhang; Hui Zhu; Xing Liu; Zhirang Zhang; Chao Xu; et al 出版日期:2024-07-15 |
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