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Hydrogen Impacts of PEALD InGaZnO TFTs Using SiOx Gate Insulators Deposited by PECVD and PEALD |
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Seok-Goo Jeong; Hyun-Jun Jeong; Wan-Ho Choi; KyoungRok Kim; Jin-Seong Park 出版日期:2020-10-01 |
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(2025-6-4)