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Quasi-free-standing epitaxial graphene on 4H-SiC(0001) as a two-dimensional reference standard for Kelvin Probe Force Microscopy 4H-SiC(0001)上准独立外延石墨烯作为开尔文探针力显微镜的二维参考标准
相关领域
开尔文探针力显微镜
石墨烯
工作职能
高定向热解石墨
材料科学
伏打电位
热解炭
石墨
显微镜
硅
纳米技术
分析化学(期刊)
化学
光电子学
光学
复合材料
原子力显微镜
物理
色谱法
图层(电子)
有机化学
热解
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| 其它 |
期刊:Applied Surface Science 作者:Tymoteusz Ciuk; Beata Pyrzanowska; Jakub Jagiełło; A. Dobrowolski; Dariusz Czołak; et al 出版日期:2024-08-10 |
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