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Hole Conduction of Tungsten Diselenide Crystalline Transistors by Niobium Dopant 铌掺杂剂对二硒化钨晶体晶体管空穴传导的影响
相关领域
二硒化钨
材料科学
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期刊:Advanced Electronic Materials 作者:Dongil Chu; Eun Kyu Kim 出版日期:2018-11-28 |
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