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 Validated Approach to Measure Thermal Quenching in the Presence of Trapping Defects 在存在俘获缺陷的情况下测量热淬火的经验证方法
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期刊：ACS Photonics 作者：Verena Fritz; David Van der Heggen; Philippe F. Smet 出版日期：2024-04-09 |
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