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 An atomic force microscopy and total internal reflection fluorescence microscopy correlated system (AFM–TIRF) for fluorescence imaging and spectroscopy of a single particle 用于单粒子荧光成像和光谱的原子力显微镜和全内反射荧光显微镜相关系统（AFM-TIRF）
相关领域
全内反射荧光显微镜
荧光相关光谱
显微镜
原子力显微镜
荧光显微镜
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荧光
材料科学
荧光寿命成像显微镜
荧光互相关光谱
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期刊：Review of Scientific Instruments 作者：Xiumian Cao; Wenquan Wang; Yuanfei Jiang; Wei Feng; Shuping Xu; et al 出版日期：2024-07-01 |
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