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![]() C4 F8 + O2 + AR等离子体中Si、SiO2和Si 3 N4的反应离子蚀刻动力学:C4 F8/O2混合比的影响
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期刊:Russian Microelectronics 作者:Alexander Efremov; Kwang‐Ho Kwon 出版日期:2021-03-01 |
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