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![]() SiC上外延石墨烯的纳米红外成像揭示掺杂和厚度不均匀性
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期刊:Applied Physics Letters 作者:M. Fralaide; Y. Chi; R. B. Iyer; Y. Luan; S. Chen; et al 出版日期:2024-03-18 |
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