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 Nano-infrared imaging of epitaxial graphene on SiC revealing doping and thickness inhomogeneities SiC上外延石墨烯的纳米红外成像揭示掺杂和厚度不均匀性
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期刊：Applied Physics Letters 作者：M. Fralaide; Y. Chi; R. B. Iyer; Y. Luan; S. Chen; et al 出版日期：2024-03-18 |
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