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 Deep-UV photoemission electron microscopy for imaging nanoscale heterogeneity and defects in gallium nitride 用于氮化镓纳米级不均匀性和缺陷成像的深紫外光发射电子显微镜
相关领域
X射线光电子能谱
材料科学
带材弯曲
分析化学（期刊）
氮化镓
化学气相沉积
外延
光电发射光谱学
光电子学
费米能级
纳米技术
化学工程
化学
电子
物理
色谱法
图层（电子）
量子力学
工程类
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期刊： 作者：Andrew Winchester; Michael A. Mastro; Travis J. Anderson; Jennifer K. Hite; Andrei Kolmakov; et al 出版日期：2023-03-15 |
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