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 Determination of Work Function for p- and n-Type 4H-SiC Single Crystals via Scanning Kelvin Probe Force Microscopy 用扫描Kelvin探针力显微镜测定p型和n型4H-SiC单晶的功函数
相关领域
开尔文探针力显微镜
工作职能
材料科学
碳化硅
扫描探针显微镜
半导体
光电子学
制作
极地的
导电体
伏打电位
纳米技术
导电原子力显微镜
原子力显微镜
复合材料
图层（电子）
医学
替代医学
物理
病理
天文
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| 其它 |
期刊：Chinese Physics Letters 作者：Hui 辉 Li 李; Guobin 国宾 Wang 王; Jingyu Yang; Zesheng 泽盛 Zhang 张; Jun 俊 Deng 邓; et al 出版日期：2023-10-19 |
| 求助人 | |
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