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Wafer Map Failure Pattern Recognition and Similarity Ranking for Large-Scale Data Sets
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薄脆饼 数据挖掘 晶圆制造 特征提取 计算机科学 模式识别（心理学） 人工智能 比例（比率） 数据集 排名（信息检索） 相似性（几何） 工程类 电气工程 图像（数学） 物理 量子力学
网址
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/66/7027932/06932449.pdf?...
DOI
10.1109/tsm.2014.2364237 doi
其它 期刊：IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
作者：Ming-Ju Wu; Jyh-Shing R. Jang; Jui-Long Chen
出版日期：2014-10-21
求助人
uglybady 在 2026-09-22 09:17:52 发布自山东，悬赏 10 积分
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