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Dual surface defects induced efficient interfacial electron transfer in S-scheme hollow ZnO@ZnS heterojunction for uranium (VI) removal |
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期刊:Separation and Purification Technology 作者:Cailing Liu; Yiguo Xu; Yiyang Peng; Hongqing Wang; Yinxiang Chen; et al 出版日期:2024-06-01 |
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