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AI-enhanced optical critical dimension metrology for high aspect ratio structures in semiconductor advanced packaging 半导体先进封装中高深宽比结构的人工智能增强光学临界尺寸计量
相关领域
计量学
临界尺寸
维数(图论)
半导体
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集成电路封装
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光学
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期刊: 作者:Fusheng Yang; Min-Ru Wu; Yen-Hung Hung; Zih-Ying Fu; Liang-Chia Chen 出版日期:2024-02-23 |
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