| 标题 |
[高分]
 Decoupling of Nanoindentation Residual Stress Field in Single-crystalline 4H-SiC via Micro-Raman Spectroscopy 4H-SiC单晶纳米压痕残余应力场的显微拉曼光谱解耦
相关领域
材料科学
纳米压痕
拉曼光谱
残余应力
光学
解耦（概率）
光谱学
领域（数学）
复合材料
物理
数学
量子力学
工程类
控制工程
纯数学
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| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Optics Letters 作者：Zhoudong Yang; Jing Tian; Xinyue Wang; Junwei Chen; Yuanhui Zuo; et al 出版日期：2025-05-07 |
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