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 Lamellae preparation for atomic-resolution STEM imaging from ion-beam-sensitive topological insulator crystals 从离子束敏感拓扑绝缘体晶体制备用于原子分辨率STEM成像的薄片
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材料科学
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期刊：Journal of Vacuum Science & Technology A Vacuum Surfaces and Films 作者：Abdulhakim Bake; Weiyao Zhao; David R. G. Mitchell; Xiaolin Wang; Mitchell Nancarrow; et al 出版日期：2022-04-06 |
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