| 标题 |
 Barrier height control in metal/silicon contacts with atomically thin MoS 2 and WS 2 interfacial layers 相关领域
肖特基势垒
材料科学
接触电阻
硅
半导体
工作职能
波段图
图层（电子）
费米能级
光电子学
肖特基二极管
晶体管
纳米技术
带隙
电气工程
二极管
物理
量子力学
工程类
电子
电压
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| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：2D Materials 作者：Seung‐Geol Nam; Yeonchoo Cho; Min‐Hyun Lee; Keun Wook Shin; Changhyun Kim; et al 出版日期：2018-08-02 |
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