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 Comprehensive identification of novel origins of single Shockley stacking faults in 4H-SiC using UV irradiation and non-destructive defect characterization |
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期刊：Scripta Materialia 作者：Chiharu Ota; Johji Nishio; Ryosuke Iijima; Kunihiro Morishima; Shunta Harada 出版日期：2025-09-17 |
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