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Nanoscale InSe/GaTe van der Waals Heterojunction Diodes for Extreme Deep Ultraviolet Detection in Semiconductor Lithography and Inspection 用于半导体光刻和检测中极深紫外检测的纳米级InSe/栅极范德华异质结二极管
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期刊:ACS Applied Nano Materials 作者:Nahid Chaudhary; Santanu Kandar; Taslim Khan; Rajendra Singh 出版日期:2025 |
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(2025-6-4)