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![]() 电子辐照和退火诱导n型4H-SiC中的缺陷演化
相关领域
退火(玻璃)
辐照
材料科学
电子束处理
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核物理学
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化学
物理
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其它 |
期刊:Journal of Semiconductors 作者:Huifan Xiong; Xuesong Lu; Xu Gao; Yuchao Yan; Shuai Liu; et al 出版日期:2024-07-01 |
求助人 |
英姑
在
2025-08-18 21:36:59 发布,悬赏 10 积分
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