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Unravelling the doping mechanism and origin of carrier limitation in Ti-doped In2O3 films
Ti掺杂In2O3薄膜的掺杂机理及载流子限制的成因
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期刊:Journal of applied physics 作者:Ann-Katrin Emmerich; Kim Alexander Creutz; Yaw-Yeu Cheng; Jean-Christophe Jaud; Andreas H. Hubmann; et al 出版日期:2024-01-02 |
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