| 标题 |
 Spectroscopic ellipsometry and its applications in the study of thin film materials 椭偏光谱法及其在薄膜材料研究中的应用
相关领域
椭圆偏振法
材料科学
薄膜
光学
纳米技术
物理
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Chinese Optics 作者：朱绪丹 Zhu Xu-dan; 张荣君 Zhang Rongjun; 郑玉祥 Zheng Yu-xiang; 王松有 Wang Song-you; 陈良尧 Chen Liangyao 出版日期：2019-01-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
maox1aoxin
农业土壤
优雅山灵
W0W
cctv18
紫金大萝卜
Echo
null
柯一一
gjww
可爱的函函
CipherSage
斯文败类
汉堡包
FashionBoy
centlay
zzz4743
爆米花
newfat
老鼠咕噜
皖公网安备34019202002308
