| 标题 |
Remaining Useful Life Estimation Based on a Nonlinear Diffusion Degradation Process |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:IEEE Transactions on Reliability 作者:Xiaosheng Si; Wenbin Wang; Changhua Hu; Donghua Zhou; Michael Pecht 出版日期:2012-01-31 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)