| 标题 |
Nanoscale characterization of electrical transport at metal/3C-SiC interfaces |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Nanoscale Research Letters 作者:J. Eriksson; F. Roccaforte; S. Reshanov; S. Leone; F. Giannazzo; et al 出版日期:2011-02-07 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)