| 标题 |
Ultralow line edge roughness of hybrid multilayer Extreme ultraviolet resist with vertical molecular wire structure |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Materials Today 作者:Jaehyuk Lee; Hyeonseok Ji; Chawon Koh; Juyeong Lee; Ji-Hoo Seok; et al 出版日期:2025-04-24 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)