| 标题 |
 Evidence of micrometer-scale ion damage in (010), (110), and (011) β-Ga2O3 epitaxial layers 相关领域
材料科学
二极管
外延
溅射
肖特基二极管
蚀刻（微加工）
光电子学
异质结
肖特基势垒
离子
晶体缺陷
分析化学（期刊）
感应耦合等离子体
降级（电信）
反应离子刻蚀
溅射沉积
腐蚀坑密度
等离子体刻蚀
硅
图层（电子）
薄膜
耗尽区
宽禁带半导体
载流子
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Applied Physics Letters 作者：Carl Peterson; Chinmoy Nath Saha; Yizheng Liu; James S. Speck; Sriram Krishnamoorthy 出版日期：2026-09-04 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人或该文件上传人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
null
吃葡萄不吐葡萄皮
无极微光
秋风
L77
aaaa
Maestro_S
嘻嘻哈哈
cdercder
学术雷锋
Criminology34
闪闪的灵
风吹麦浪
云曦
aa
玛卡巴卡
蓝天
忧心的曼凝
牧青
风格
皖公网安备34019202002308
