| 标题 |
Study on low-order aberration measurements of large-aperture flats based on scanning pentaprism technology |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Applied Optics 作者:Erhui Qi; Haixiang Hu; Xiao Luo 出版日期:2019-01-22 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)