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 A line-broadening analysis model for the microstructural characterization of nanocrystalline materials from asymmetric x-ray diffraction peaks 非对称x射线衍射峰表征纳米晶材料微观结构的谱线展宽分析模型
相关领域
纳米晶材料
衍射
材料科学
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期刊：Journal of Physics Condensed Matter 作者：Juan Pantoja-Cortés; F. Sánchez‐Bajo; Ángel L. Ortiz 出版日期：2012-04-25 |
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