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 Quantitative theoretical analysis of the electrostatic force between a metallic tip and semiconductor surface in Kelvin probe force microscopy 开尔文探针力显微镜中金属针尖与半导体表面之间静电力的定量理论分析
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期刊：Nanotechnology 作者：Nobuyuki Ishida; Takaaki Mano 出版日期：2024-11-22 |
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