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 Design Strategy for Mitigating Off-State Current Degradation in Non-Conductive Stress (NCS) Reliability 缓解非导电应力（NSO）可靠性关态电流退化的设计策略
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期刊：2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) 作者：P. J. Liao; Yoon Kil Chang; C.M. Fu; Chunfeng Ou; Chia-Long Lin; et al 出版日期：2024-12-07 |
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