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![]() HfO2/Si薄膜界面质量的二次谐波研究
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期刊:Journal of Physics D Applied Physics 作者:Ye Li; Libo Zhang; Shaotong Wang; Weiwei Zhao; Chongji Huang; et al 出版日期:2024-07-22 |
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yyyn
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2025-08-04 20:17:53 发布,悬赏 10 积分
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