| 标题 |
Demonstration of etching-trench-assisted deep implantation PIN junction termination Ga2O3 SBD with 6.6 kV breakdown voltage and 10.69 GW/cm2 power figure of merit 相关领域
材料科学
功勋
光电子学
击穿电压
离子注入
肖特基二极管
二极管
电压
泄漏(经济)
宽禁带半导体
功率半导体器件
肖特基势垒
反向漏电流
PIN二极管
半导体器件
电场
p-n结
电气工程
半导体
带隙
高压
碳化硅
场效应晶体管
低压
兴奋剂
功率(物理)
砷化镓
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Applied Physics Letters 作者:Pengfei Dong; Bowen Tang; Hong Yu Zhou; Wei Mao; Jianghan Zhao; et al 出版日期:2026-11-02 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)