| 标题 |
 Automated Line-Based Sequential Sampling and Modeling Algorithm for EMC Near-Field Scanning 相关领域
电磁兼容性
采样（信号处理）
算法
自适应采样
点（几何）
领域（数学）
计算机科学
直线（几何图形）
电磁干扰
电子工程
工程类
数学
蒙特卡罗方法
电信
探测器
统计
纯数学
几何学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility 作者：Prashant Singh; Tim Claeys; Guy A. E. Vandenbosch; Davy Pissoort 出版日期：2016-12-07 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
cdercder
呵呵呵
v0id
xing_xing
Nole
DOC_XIONG
李蕙芯
无极微光
共产主义战士
DW
OK
纯情的阁
ZHAO
GG
dde
渡人舟
七听
Dean
初景
GingerF
皖公网安备34019202002308
