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Investigation of Body Bias Dependence of Gate-Induced Drain Leakage Current for Body-Tied Fin Field Effect Transistor |
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期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Makoto Yoshida; Chul Lee; Kyoung-Ho Jung; Chang-Kyu Kim; Hui-Jung Kim; et al 出版日期:2008-09-01 |
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(2025-6-4)