| 标题 |
Metal layer single EUV expose at pitch 28: how bright field and NTD resist advantages align |
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10.1117/12.2584733
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| 其它 |
期刊:Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography XII 作者:Joern-Holger Franke; Andreas Frommhold; Natalia Davydova; Remko Aubert; Vineet Vijayakrishnan Nair; et al 出版日期:2021-02-22 |
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