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 Reliability assessment of 1.55-μm vertical cavity surface emitting lasers with tunnel junction using high-temperature aging tests 相关领域
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Keun Ho Rhew; Su Chang Jeon; Dae Hee Lee; Byueng-Su Yoo; Ilgu Yun 出版日期：2008-12-03 |
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