p-GaN gate HEMT器件高温可靠性及失效机理研究

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文献求助详情

标题	p-GaN gate HEMT器件高温可靠性及失效机理研究
网址	求助人暂未提供
DOI	暂未提供，该求助的时间将会延长，查看原因？
其它	作者唐磊
求助人	忐忑的白枫在 2025-11-06 16:42:37 发布自上海，悬赏 10 积分
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