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Do Radiation and Aging Impact DVFS? TCAD-based Analysis on 22 nm FDSOI Latches |
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期刊:2024 IEEE 30th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) 作者:Zhe Zhang; Christian Weis; Norbert Wehn; Mehdi Tahoori; Sani Nassif 出版日期:2024 |
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(2025-6-4)