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Reliability Study of the Band Gap of Rare Earth Oxides Measured by XPS Spectra XPS光谱测量稀土氧化物带隙的可靠性研究
相关领域
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期刊:Key engineering materials 作者:Xiao Yang; Yong Sheng Tan; Ze Fang; Jianjun Wang; He Nan Ni; et al 出版日期:2013-07-01 |
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