High on/off-ratio P-type oxide-based transistors integrated onto Cu-interconnects for on-chip high/low voltage-bridging BEOL-CMOS I/Os

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标题	High on/off-ratio P-type oxide-based transistors integrated onto Cu-interconnects for on-chip high/low voltage-bridging BEOL-CMOS I/Os 集成到铜互连上的高开/关比P型氧化物基晶体管，用于片上高/低压桥接BEOL-CMOS I/O
网址	https://doi.org/10.1109/IEDM.2012.6479070
DOI	10.1109/IEDM.2012.6479070 doi
其它	期刊：2012 International Electron Devices Meeting 作者：H. Sunamura; K. Kaneko; N. Furutake; S. Saito; M. Narihiro; et al 出版日期：2012
求助人	郑森友在 2025-09-25 09:10:28 发布自广东，悬赏 10 积分
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